LED測試的國內(nèi)國外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)列表

文章來源:恒光電器

發(fā)布時間:2013-11-24

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 1.國外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀

 

　　普通LED的測試標(biāo)準(zhǔn)有：

 

　　(1)IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)

 

　　IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及集成電路

 

　　(2)IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics(1997-09)

 

　　IEC60747-5-2分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件5-2：光電子器件—分類特征及要素(1997-09)

 

　　(3)IEC60747-5-3Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part5-3:Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)

 

　　IEC60747-5-3分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件5-3：光電子器件—測試方法(1997-08)

 

　　(4)IEC60747-12-3 Semiconductordevices－part12-3:optoelectronic devices–Blank detail specification for light-emitting diodes–Display application(1998-02)

 

　　IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3：光電子器件—顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)（1998-02）

 

　　(5) CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)

 

　　CIE127-1997LED測試方法（1997）

 

　　(6) CIE/ISO standards on LED intensity measurements

 

　　CIE/ISoled強度測試標(biāo)準(zhǔn)

 

　　國際照明委員會（CIE）1997年發(fā)表CIE127-1997 LED測試方法，把LED強度測試確定為平均強度的概念，星級酒店照明燈具，產(chǎn)業(yè)資訊，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結(jié)構(gòu)和探測器大小，這樣就為LED準(zhǔn)確測試比對奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE127－1997測試方法并非國際標(biāo)準(zhǔn)，企業(yè)資訊，裝修照明，但它容易實施準(zhǔn)確測試比對，高亮度，產(chǎn)業(yè)資訊，目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展，LED照明企業(yè)，許多新的LED技術(shù)特性CIE127-1997 LED測試方法沒有涉及。

 

　　目前，隨著半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，發(fā)達國家非常重視LED測試標(biāo)準(zhǔn)的制訂。如美國國家標(biāo)準(zhǔn)檢測研究所（NIST）正在開展LED測試方法的研究，照明產(chǎn)品，準(zhǔn)備建立整套的LED測試方法和標(biāo)準(zhǔn)。同時，許多國外大公司的研究和開發(fā)人員正在積極參與國家和國際專業(yè)化組織，綠色照明，制訂半導(dǎo)體照明測試標(biāo)準(zhǔn)。如2002年10月28日，3c認(rèn)證，美國Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán)，并準(zhǔn)備聯(lián)合制訂功率型LED標(biāo)準(zhǔn)，技術(shù)資訊，恒光電器，以推動市場應(yīng)用。

 

　　2.國內(nèi)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀

 

　　從八十年代初起，電工照明，我國相繼制定了一些與發(fā)光二極管相關(guān)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)。國內(nèi)現(xiàn)有與LED測試有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)有：

 

　　(1)Sj2353.3-83半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法

 

　　(2)Sj2658－86半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管測試方法

 

　　(3)GB/T12561—1990發(fā)光二極管空白詳細(xì)規(guī)范

 

　　(4)GB/T15651－1995半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路：光電子器件（國家標(biāo)準(zhǔn)）

 

　　(5)GB/T18904.3—2002半導(dǎo)體器件12-3:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)規(guī)范（采用IEC60747-12-3:1998）

 

　　(6)半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5－2部分：光電子器件基本額定值和特性（國家標(biāo)準(zhǔn)；制訂中）

 

　　(7)半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5－3部分：光電子器件測試方法（國家標(biāo)準(zhǔn)；制訂中）

 

　　(8)半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法（中國光協(xié)光電器件分會標(biāo)準(zhǔn)；2002）

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